用晶体管图示仪测量线性光耦

• 作者: 周红 张建峡 徐云
• 来源期刊: 实验科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 线性光耦 晶体管图示仪 输出特性曲线 测量
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: TM93
• 字数: 999字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4550.2012.02.004

摘要

线性光耦良好的电磁隔离功能和线性度而有广泛的工业应用,却没有专门的测量设备测量线性光耦输出特性曲线,利用线性光耦和晶体管有相同的流控电流源电路模型的原理,再将四端元件的线性光耦巧妙地接成与晶体管对应的三端元件,就可利用晶体管图示仪测量线性光耦的输出特性曲线,文中给出了很好的测量结果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张建峡	贵州大学实验室与设备处	30	174	8.0	12.0
2	周红	清华大学电机工程与应用电子技术系	16	44	3.0	6.0
3	徐云	清华大学电机工程与应用电子技术系	28	571	14.0	23.0