CMOS数字集成电路老炼条件的选择

• 作者: 李兴鸿 赵俊萍 赵春荣
• 来源期刊: 环境技术
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS数字集成电路电路 失效模式和机理 老炼试验条件
• 年，卷（期）: 2013,（z1）
• 页码范围: 32-35,43
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 5020字
• 语种: 中文

摘要

本文从集成电路的失效模式、电路特点、老炼设备特点、老炼试验的要求等方面进行深入探讨，分析了如何使老炼试验发挥最大作用并指出了剔除缺陷存在局限性的原因。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李兴鸿		12	9	2.0	2.0
2	赵春荣		5	4	1.0	2.0
3	赵俊萍		11	9	2.0	2.0