带隙基准源电路工艺鲁棒性设计

• 作者: 姜岩峰 张东 李杰 蒋常斌
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 带隙基准源 工艺 鲁棒性
• 年，卷（期）: 2013,（24）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN702
• 字数: 3942字
• 语种: 中文

摘要

在电路设计中，器件和电路的性能和参数会随着制造工艺，电源电压，环境温度的改变而发生变化，随着集成度不断提高，这种偏差严重影响电路的成品率，增加了电路设计的复杂性和成本等。采用基于典型的PTAT带隙基准源，对它进行适当修改后，增加了曲率校正和频率补偿功能，达到增强其工艺鲁棒性的目的，所设计的电路在满足原功能基础上，在指定的PVT变化范围内，电路稳定性得到明显提高。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东		25	124	5.0	10.0
2	姜岩峰		10	94	4.0	9.0
3	蒋常斌		6	43	3.0	6.0
4	李杰		8	28	2.0	5.0