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浅谈晶体管级软错误防护技术
浅谈晶体管级软错误防护技术
作者:
张华杰
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
晶体管级
软错误
防护技术
防护性能
SEU/SET
摘要:
文章简要介绍了晶体管级的双指数电流脉冲故障注入方法和软错误率的计算方法,在此基础上提出了一种对软错误具有防护作用的DIL-SET时序单元.DIL-SET时序单元的原理是在输出端使用C单元,并在单元的内部构建双模冗余的微小结构,能够使内部节点的关键电荷得到显著提高,使得DIL-SET的抗SEU能力明显增强.DIL-SET的功能具有很好的可扩展性,并能够结合时差技术对SET进行防护.
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篇名
浅谈晶体管级软错误防护技术
来源期刊
企业技术开发(下半月)
学科
工学
关键词
晶体管级
软错误
防护技术
防护性能
SEU/SET
年,卷(期)
2013,(17)
所属期刊栏目
科技应用
研究方向
页码范围
31-32
页数
2页
分类号
TM42
字数
1293字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张华杰
新乡学院物理与电子工程系
14
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研究主题发展历程
节点文献
晶体管级
软错误
防护技术
防护性能
SEU/SET
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
企业技术开发(下半月)
主办单位:
出版周期:
半月刊
ISSN:
CN:
开本:
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
语种:
chi
出版文献量(篇)
13071
总下载数(次)
12
总被引数(次)
34890
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