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PWBA焊点锡洞的成因与改善
PWBA焊点锡洞的成因与改善
作者:
刘燕芳
潘启智
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
PTH
锡洞
破孔
钻孔
化学铜
金属阳剂
摘要:
【摘要】焊点锡洞是PWBA组装过程中的主要缺陷之一,大面积锡洞的存在会严重影响产品的使用性能及可靠性。本文以三个比较典型的实际案例为分析对象,采用金相切片分析技术,分析了锡洞的形成原因和形成机理。分析结果表明:PWBPTH(PlatedThroughHole)破孔是导致焊点锡洞形成的直接原因,而破孔则03因于PWB钻孔质量差、化学铜不良以及抗蚀刻金属阻剂保护不良。同时,本文亦提出了相应的改善对策,如改善钻孔质量、优化化学铜工艺等,可有效降低后续生产中锡洞的产生机率,提高产品的使用寿命。
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篇名
PWBA焊点锡洞的成因与改善
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学科
工学
关键词
PTH
锡洞
破孔
钻孔
化学铜
金属阳剂
年,卷(期)
2013,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
37-39
页数
3页
分类号
TN405
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
潘启智
中达电子(江苏)有限公司物性失效分析实验室
5
12
1.0
3.0
2
刘燕芳
中达电子(江苏)有限公司物性失效分析实验室
2
11
1.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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PTH
锡洞
破孔
钻孔
化学铜
金属阳剂
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
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主办单位:
深圳市拓普达资讯有限公司
出版周期:
双月刊
ISSN:
1054-3685
CN:
开本:
出版地:
深圳市南山区南山大道2002号光彩新天地
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
3103
总下载数(次)
8
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