基于折叠技术和统计码优化的BIST方案

• 作者: 方祥圣
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 折叠技术 统计码 测试集 内建自测试(BIST)
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 理论研究、研发设计
• 页码范围: 57-59,79
• 页数: 4页
• 分类号: TP309
• 字数: 2225字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.1302-0098

摘要

提出了一种综合测试数据压缩方案.它是在折叠压缩的基础上,利用统计码进行优化,二次压缩测试数据,给出了解压逻辑结构和状态转换图.实验结果证明该方案具有较高的压缩率,其平均压缩率在86.5％以上,明显优于近年来国内外同类方案.该方案原理简单,解压结构易于实现,是一种较为实用的BIST方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方祥圣	合肥工业大学计算机与信息学院	9	54	2.0	7.0