非下采样Contourlet域自适应阈值面的磁瓦表面缺陷检测

• 作者: 刘培勇 李雪琴 殷国富 蒋红海
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁瓦 非下采样Contourlet变换 缺陷检测 自适应阈值面
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 图像与视觉
• 页码范围: 553-558
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 3547字
• 语种: 中文

摘要

为提高磁瓦表面缺陷人工检测效率、防止缺陷漏检,针对经典缺陷检测算法不能很好地提取颜色暗、对比度低的磁瓦图像缺陷问题,提出一种非下采样Contourlet域自适应阈值面的磁瓦缺陷自动检测方法.该方法根据非下采样Contourlet变换(NSCT)子带系数所在不同区域的特性,采用线扫描的方式对NSCT系数进行阈值处理,给出不同尺度、不同方向的归一化自适应阈值面;并与原始NSCT各子带归一化系数对比分割,以实现对磁瓦图像NSCT系数逐列自适应修正;最后重构NSCT系数提取出磁瓦缺陷.实验结果表明,文中方法能够有效地去除磁瓦表面纹理,提取出磁瓦表面缺陷的准确率可达95％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷国富	四川大学制造科学与工程学院	617	5927	35.0	50.0
2	蒋红海	昆明理工大学机电工程学院	14	83	5.0	9.0
3	刘培勇	四川大学制造科学与工程学院	4	43	3.0	4.0
4	李雪琴	四川大学制造科学与工程学院	7	73	5.0	7.0