LEC法生长富磷掺铁InP单晶晶格应变与残留应力研究

• 作者: 刘志国 孙聂枫 杨帆 杨瑞霞 陈爱华
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磷化铟 液封直拉法 晶格应变 残留应力
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 743-747
• 页数: 5页
• 分类号: TN304.2
• 字数: 2411字
• 语种: 中文

摘要

运用原位磷注入合成法在高压单晶炉内合成富磷的InP熔体,并利用液封直拉法(LEC)生长出了3英寸富磷掺Fe的InP单晶.运用高分辨率X射线衍射技术、偏振差分透射谱测试技术、光致荧光谱技术对富磷掺Fe的InP晶片进行了结构、应力及发光特性测试.结果表明,晶格的应变导致了PL发光峰峰位的变化,晶格应变与残留应力测试结果相一致,说明材料生长过程中的热应力是导致样品晶格常数分布不均匀的主要因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨瑞霞	河北工业大学信息工程学院	180	759	13.0	18.0
2	杨帆	河北工业大学信息工程学院	84	332	9.0	14.0
3	孙聂枫	中国电子科技集团公司第十三研究所专用集成电路国家重点实验室	11	39	4.0	5.0
4	刘志国	河北工业大学信息工程学院	5	36	3.0	5.0
5	陈爱华	河北工业大学信息工程学院	2	6	2.0	2.0