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摘要:
本文从器件用热像仪的测温过程、常用公式出发,针对测温条件进行了探讨,对公式里面的指数n的取值进行了推算。认为n可取4,但常数C和指数n的取值与波长范围和温度范围有关,要匹配。同时对IC温度分布的精确测量条件也进行了总结。
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FPGA建模
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温度对泄漏测试影响的研究和应用
温度
泄漏率
腔体
补偿值
措施
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 器件温度测试的影响因素
来源期刊 环境技术 学科 工学
关键词 红外热像仪 辐射温度 实际温度 n值
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目 环境试验 ENVIRONMENTAL TESTING
研究方向 页码范围 6-9
页数 4页 分类号 TN4
字数 3701字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李兴鸿 12 9 2.0 2.0
2 赵春荣 5 4 1.0 2.0
3 赵俊萍 11 9 2.0 2.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (2)
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参考文献  (1)
节点文献
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二级引证文献  (0)
1996(1)
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1999(1)
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2004(1)
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  • 二级参考文献(0)
2014(0)
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  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
红外热像仪
辐射温度
实际温度
n值
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
环境技术
双月刊
1004-7204
44-1325/X
大16开
广州市科学城开泰大道天泰1路3号《环境技术》编辑部
1983
chi
出版文献量(篇)
2782
总下载数(次)
19
总被引数(次)
8389
论文1v1指导