HR 神经元网络抗脉冲干扰特性的研究

• 作者: 刘尚合 常小龙 满梦华 褚杰
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 神经元 突触连接 抗干扰 耦合强度 同步 放电频率
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机与控制工程
• 页码范围: 116-120
• 页数: 5页
• 分类号: TP802.6|Q612
• 字数: 3444字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13245/j.hust.140623

摘要

采用数值仿真的方法，研究了电突触耦合对 Hindmarsh-Rose（HR）神经元网络抗脉冲干扰特性的影响。结果表明：规则的耦合形式和神经元数目对网络的抗脉冲干扰特性影响较小；神经元间电突触耦合强度的分布对网络的抗脉冲干扰特性影响较大。在全局耦合结构下，当突触耦合强的度分布满足一定条件时，网络中的神经元仍能同步放电且保持稳定的放电频率，呈现出较好的抵御脉冲干扰能力。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘尚合	军械工程学院静电与电磁防护研究所	203	2590	23.0	39.0
2	褚杰	军械工程学院静电与电磁防护研究所	26	229	7.0	14.0
3	满梦华	军械工程学院静电与电磁防护研究所	28	152	7.0	9.0
4	常小龙	军械工程学院静电与电磁防护研究所	26	88	6.0	6.0