透明软质薄膜的表面形貌测量

• 作者: 刘淑杰 张元良 张洪潮
• 来源期刊: 中国光学
• 学科: 工学
• 关键词: 表面形貌测量 光刻胶 白光干涉 多点球形探针
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 光学仪器与测试
• 页码范围: 326-331
• 页数: 6页
• 分类号: O436.1|TB92|TP394.1
• 字数: 2476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CO.20140702.0326

摘要

为了实现光刻胶表面形貌的广域、高精度测量，对新一代测量理论及测量方法进行了研究。首先分析了被测物件的特性，根据其柔软、透明的特征提出应用光干涉法和机械探针相结合的方法进行测量，同时阐明了使用此方法进行表面形貌测量的优点，并据此原理搭建了光学多探针表面形貌测量装置，光学测量部分采用白光干涉计，探针部分采用拥有8只球型探头的多点悬臂测量探针。然后应用此装置对标准刻槽试件和半透明光造型薄膜试件进行了测量。测量52 nm的标准刻槽试件时得到了测量误差小于2％，标准偏差小于1 nm的结果，表明本装置可以达到高精度测量表面形貌的目的。通过测量高约400 nm的树脂材料证实了此装置可以克服多重反射的影响测量透明薄膜的表面形貌。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张元良	大连理工大学机械工程学院	62	538	11.0	21.0
2	张洪潮	大连理工大学机械工程学院	30	423	9.0	20.0
3	刘淑杰	大连理工大学机械工程学院	10	24	4.0	4.0