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CMOS工艺中NPN bipolar的开发
CMOS工艺中NPN bipolar的开发
作者:
崔金洪
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
互补型场效应晶体管
双极
实验设计
击穿电压
摘要:
由于技术的迅速发展与突破,使集成电路的制造得以在短短的60年间,单一晶粒已经可以容纳数千万个电晶体的超大型集成电路。其主要工艺为CMOS工艺,原因是它有功耗低、集成度高、噪声低、抗辐射能力强等优点,但是传统bipolar工艺有频率高、功率大的优点,因此提出在CMOS中集成三极管、二极管。论述了在0.5μm CMOS工艺中集成NPN bipolar的方法以及各个关键技术指标的确定。
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内容分析
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相关基金
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
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文献信息
篇名
CMOS工艺中NPN bipolar的开发
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
互补型场效应晶体管
双极
实验设计
击穿电压
年,卷(期)
2014,(11)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
34-36
页数
3页
分类号
TN305
字数
1040字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
崔金洪
2
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研究主题发展历程
节点文献
互补型场效应晶体管
双极
实验设计
击穿电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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