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摘要:
开发了一种基于电镀铜锡合金薄膜的绝压气压传感器圆片级气密封装技术以降低常规的基于阳极键合气密封装技术的成本及难度.通过实验确定了铜锡合金薄膜的电镀参数,实现了结构参数为:Cr/Cu/Sn (30 nm/4 μm/4 μm)的铜锡合金薄膜;通过共晶键合实验确定圆片级气密封装的参数,进行了基于铜锡材料的气密封装温度实验.通过比较各种不同温度下气密封装的结果,确定了完成圆片级气密封装的条件为:静态压力0.02 MPa,加热温度280°,保持20 min.最后,对气密封装效果进行X-射线衍射谱(XRD)、X射线分析、剪切力以及氦气泄露分析等实验研究.XRD分析显示:在键合界面出现了Cu3 Sn相,证明形成了很好的键合;X射线分析表明封装面无明显孔洞;剪切力分析给出平均键合强度为9.32 MPa,氦气泄露分析则显示泄露很小.得到的结果表明:基于电镀铜锡合金薄膜可以很好地实现绝压气压传感器的圆片级气密封装.
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关键词云
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文献信息
篇名 用电镀铜锡合金薄膜实现圆片级气密封装
来源期刊 光学精密工程 学科 工学
关键词 微机械 气密封装 气压传感器 圆片级键合 电镀铜锡合金薄膜
年,卷(期) 2014,(11) 所属期刊栏目 微纳技术与精密机械
研究方向 页码范围 3044-3049
页数 6页 分类号 TP212
字数 1914字 语种 中文
DOI 10.3788/OPE.20142211.3044
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙学金 解放军理工大学气象与海洋学院 75 565 13.0 21.0
2 王晓蕾 解放军理工大学气象与海洋学院 85 363 11.0 16.0
3 赵湛 中国科学院电子学研究所传感器国家重点实验室 54 723 10.0 26.0
4 杜利东 中国科学院电子学研究所传感器国家重点实验室 63 104 7.0 8.0
5 方震 中国科学院电子学研究所传感器国家重点实验室 32 605 8.0 24.0
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电镀铜锡合金薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
光学精密工程
月刊
1004-924X
22-1198/TH
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-166
1959
chi
出版文献量(篇)
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