一种 FLEX 系列 FPGA 测试建模方案磁

• 作者: 张俊 袁云华
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 测试 查找表 逻辑单元 测试模型
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 测试原理与技术
• 页码范围: 113-116,136
• 页数: 5页
• 分类号: TP317
• 字数: 2858字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.030

摘要

目前常用的 FPGA 器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法，其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了 FPGA 器件的结构和工作原理的基础上，提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案，对逻辑单元、嵌入式阵列和 I／O 双向管脚的覆盖率可达100％，且功能简单、结构清晰，易于模拟测试向量和故障定位。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张俊	湖北航天技术研究院计量测试技术研究所	2	2	1.0	1.0
2	袁云华	湖北航天技术研究院计量测试技术研究所	4	3	1.0	1.0