CMC芯片架构及并行测试方法

• 作者: 刘丹 刘敏 闫晓风
• 来源期刊: 中国仪器仪表
• 关键词: CMC芯片 芯片并行测试技术
• 年，卷（期）: 2015,（8）
• 所属期刊栏目: 本期主题·工业控制
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 字数: 2069字
• 语种: 中文

摘要

CMC芯片是面向工业控制领域开关量控制、模拟量控制、运动控制、信息采集、工业无线、低功耗和分布控制几个方面的片上控制系统,本文介绍CMC芯片的总体软硬件架构,并给出CMC芯片并行测试技术和方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘敏		3	0	0.0	0.0
2	闫晓风		13	35	3.0	5.0
3	刘丹		30	122	7.0	10.0