基于NCV门的量子电路故障的检测与定位

• 作者: 何金凤 徐明强 程学云 管致锦 郁可人
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 量子光学 量子电路 故障定位树 丢失门故障 NCV门库
• 年，卷（期）: 2015,（2）
• 所属期刊栏目: 量子光学
• 页码范围: 161-169
• 分类号: TP302.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2015.02.006

摘要

为了确保基于NCV门库的量子电路的正确性和有效性,给出了量子电路故障定位树的生成算法和量子电路黑盒检测算法来定位量子电路中的门丢失故障.该故障定位树算法去除约98％的无用输出向量,提取输出表中有效的输入向量以及对应的故障输出向量,逐层生成故障定位树.结合量子电路黑盒检测算法对量子电路进行故障定位时不需要访问输出表就能够有效定位量子电路中的丢失门.对benchmarks部分电路进行实验,结果验证了该算法定位单故障门的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程学云	南通大学计算机科学与技术学院	49	115	5.0	7.0
2	徐明强	南通纺织职业技术学院素质部	6	17	2.0	4.0
3	管致锦	南通大学计算机科学与技术学院	69	369	10.0	16.0
4	何金凤	南通大学电子信息学院	6	2	1.0	1.0
5	郁可人	南通大学计算机科学与技术学院	1	2	1.0	1.0