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电子产品可靠性与环境试验期刊
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焊料层形变对IGBT热阻影响的研究
焊料层形变对IGBT热阻影响的研究
作者:
佘烁杰
张小玲
王艳丰
田蕴杰
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
绝缘栅双极晶体管
塑性形变
断裂分析
空洞
摘要:
构建简化的IGBT三维模型及焊料层二维模型,分析焊料层受热应力产生的塑性形变对器件热阻的影响.弹塑性仿真分析表明,焊料层的塑性形变导致细小裂纹的出现,这些细小的裂纹在周期性的热应力的作用下逐渐地变大,最终形成比较明显的空洞,从而使得器件的热阻变大.
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文献信息
篇名
焊料层形变对IGBT热阻影响的研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
绝缘栅双极晶体管
塑性形变
断裂分析
空洞
年,卷(期)
2015,(5)
所属期刊栏目
仿真分析与测试技术
研究方向
页码范围
20-23
页数
4页
分类号
TN386.2|TN322+.8|TP391.97
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2015.05.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张小玲
北京工业大学电子信息与控制工程学院
69
447
11.0
18.0
2
佘烁杰
北京工业大学电子信息与控制工程学院
3
23
2.0
3.0
3
田蕴杰
北京工业大学电子信息与控制工程学院
2
11
2.0
2.0
4
王艳丰
北京工业大学电子信息与控制工程学院
1
2
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传播情况
被引次数趋势
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版权信息
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共引文献
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二级引证文献(0)
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引证文献(1)
二级引证文献(0)
2019(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
绝缘栅双极晶体管
塑性形变
断裂分析
空洞
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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电子产品可靠性与环境试验2015年第4期
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电子产品可靠性与环境试验2015年第2期
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