原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
构建简化的IGBT三维模型及焊料层二维模型,分析焊料层受热应力产生的塑性形变对器件热阻的影响.弹塑性仿真分析表明,焊料层的塑性形变导致细小裂纹的出现,这些细小的裂纹在周期性的热应力的作用下逐渐地变大,最终形成比较明显的空洞,从而使得器件的热阻变大.
推荐文章
基于IGBT模块热阻的状态评估研究
热阻状态评估
模糊理论
模糊状态评估方法
IGBT模块
焊层空洞对IGBT芯片温度的影响
焊层空洞
IGBT模块
有限元
芯片焊层
热分析
芯片温度
焊料层空洞对IGBT芯片温度分布影响分析
有限元模型
焊料层空洞
温度分布
基于电-热-机械应力多物理场的IGBT焊料层健康状态研究
IGBT
温度
电-热-机械力耦合
空洞
温度梯度
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 焊料层形变对IGBT热阻影响的研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 绝缘栅双极晶体管 塑性形变 断裂分析 空洞
年,卷(期) 2015,(5) 所属期刊栏目 仿真分析与测试技术
研究方向 页码范围 20-23
页数 4页 分类号 TN386.2|TN322+.8|TP391.97
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.05.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张小玲 北京工业大学电子信息与控制工程学院 69 447 11.0 18.0
2 佘烁杰 北京工业大学电子信息与控制工程学院 3 23 2.0 3.0
3 田蕴杰 北京工业大学电子信息与控制工程学院 2 11 2.0 2.0
4 王艳丰 北京工业大学电子信息与控制工程学院 1 2 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (21)
共引文献  (24)
参考文献  (6)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1971(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1973(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1976(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1989(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1990(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1992(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1996(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2000(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2004(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(4)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(3)
2009(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2011(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2014(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2015(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2017(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2019(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
绝缘栅双极晶体管
塑性形变
断裂分析
空洞
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导