LDO类IC基准项测试及熔丝修调方法探讨

• 作者: 吴熙文
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 低压差线性稳压器 基准值 CP测试 测试精度
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2169字
• 语种: 中文

摘要

LDO类IC（低压差线性稳压器）作为新一代集成电路稳压器，以其低噪声、高电源抑制比、低成本、高效率等特性，目前正广泛应用于各种供电系统中。输出电压（基准值）作为低压差线性稳压器最重要的参数是测试过程中最为重要也是最为关注的一项。在CP测试时，一旦输出电压因各种原因出现了偏差，将造成难以挽回的后果。探讨了提高LDO类IC基准值测试精度的一些方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴熙文		4	6	2.0	2.0