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摘要:
介绍了圆片测试中一种针对多工位测试的高效熔丝并行修调方案.并行修调方案相对于传统的串行修调大幅度缩减了时间,平均效率提升在30%~50%之间.按照产品特点,所需熔断的熔丝数越多、工位数越多,并行修调方案的效率提升越明显.并行修调方案可行、可靠、稳定、高效,可替代传统串行修调方案,节约生产成本,提升行业竞争力.
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DC/DC控制器
测试及修调电路
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测试操作简单
测试成本低廉
测试范围广泛
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 一种高效的熔丝并行修调方案
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 并行修调 高效 多工位
年,卷(期) 2018,(5) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 19-22
页数 4页 分类号 TN307
字数 2552字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴熙文 中国电子科技集团公司第五十八研究所 4 6 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
并行修调
高效
多工位
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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