基于故障概率的组合电路软错误率分析

• 作者: 梁华国 袁德冉 闫爱斌 黄正峰
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误率(SER) 组合电路 单粒子瞬态(SET) 扇出重汇聚 故障概率
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 343-351
• 页数: 9页
• 分类号: TP391.72|TN432
• 字数: 7422字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.2015.03.005

摘要

为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的有效评估，建立了一种精确的单粒子瞬态故障概率模型与脉冲屏蔽模型，并提出一种基于故障概率的组合电路软错误率评估方法。通过门级仿真可得各个组合逻辑门单元信号概率，将信号概率反转以模拟故障注入，并使用提出的数据通路检索算法可得故障门到锁存器的数据通路。在数据通路上使用不同宽度的正负脉冲模拟不同能量的粒子撞击，并使用提出的单粒子瞬态脉冲屏蔽模型计算可得电路总体错误概率，最后使用提出的基于故障概率的软错误率评估方法计算可得电路总体软错误率。通过对ISCAS’89电路进行实验并与基于向量传播的方法比较，等效精度平均提高近200倍的软错误率评估速度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	闫爱斌	合肥工业大学计算机与信息学院	9	41	4.0	6.0
4	袁德冉	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	3	14	2.0	3.0