IC芯片引线框架亚像素边缘提取研究

• 作者: 曾祥进 田峰 袁泽 钟旭锐
• 来源期刊: 软件导刊
• 学科: 工学
• 关键词: Zernike矩 亚像素 芯片封装
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 所属期刊栏目: 图像与辅助设计
• 页码范围: 158-160
• 页数: 3页
• 分类号: TP317.4
• 字数: 1908字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11907/rjdk.151559

摘要

针对芯片引线框架精确定位,提出一种芯片引线框架的改进型亚像素边缘提取方法.该方法利用Zernike正交矩的最小二乘椭圆拟合亚像素定位方法,对芯片引线框架进行边缘提取.通过构建的芯片自动视觉运动平台,进行相关实验.结果表明,芯片引线框架定位精度小于0.6像素,满足芯片封装应用要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾祥进	武汉工程大学计算机科学与工程学院	19	26	2.0	4.0
2	田峰	武汉工程大学计算机科学与工程学院	2	0	0.0	0.0
3	袁泽	武汉工程大学计算机科学与工程学院	1	0	0.0	0.0
4	钟旭锐	武汉工程大学计算机科学与工程学院	1	0	0.0	0.0