浅析电子元器件的失效模式分析

• 作者: 廖东
• 来源期刊: 军民两用技术与产品
• 关键词: 电子元件 失效分析 故障
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 所属期刊栏目: 电子信息
• 页码范围: 41-41
• 页数: 1页
• 字数: 2114字
• 语种: 中文

摘要

本文主要立足于元器件中进行失效模式影响分析技术研究与应用中，探索合理的元器件失效模式以及机理影响分析技术。在中国首次将机理影响分析技术应用到元器件的基础上，不断进行研究机理影响分析技术软件。研究目的是为了在元器件的研制与应用中，使相关的失效模式及机理得到良好的控制，在最大程度上提高产品的质量与可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖东		1	1	1.0	1.0