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摘要:
封装式特征选择算法可以准确地选择出有价值的特征,但是其评价过程伴随着极大的时间复杂度。为此,该文针对封装式特征选择算法中时间复杂度最高的交叉验证评价环节,提出了可以替代交叉验证的特征集直接评价方法——LW测量。进一步,将该方法与封装式特征选择算法中常用的序列搜索策略相结合,提出了改进的序列前(后)向搜索特征选择算法SFS-LW(SBS-LW)。通过在2个UCI数据集上与传统的基于交叉验证的封装式特征选择算法进行3组对比实验,结果表明该改进特征选择方法具有与传统方法近似的分类精度,但在时间复杂度上则有数倍的改善。
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文献信息
篇名 直接验证的封装式特征选择方法
来源期刊 电子科技大学学报 学科 工学
关键词 特征选择 序列搜索算法 分类 时间复杂度 封装式方法
年,卷(期) 2016,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 607-615
页数 9页 分类号 TP391.4
字数 6538字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.04.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵强 电子科技大学计算机科学与工程学院 35 190 6.0 13.0
2 汪文勇 电子科技大学计算机科学与工程学院 54 492 12.0 19.0
3 沈晓明 国网浙江省电力公司电力科学研究院 11 33 4.0 4.0
4 丘晓彤 电子科技大学格拉斯哥学院 2 11 2.0 2.0
5 刘川 电子科技大学计算机科学与工程学院 4 30 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
特征选择
序列搜索算法
分类
时间复杂度
封装式方法
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双月刊
1001-0548
51-1207/T
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62-34
1959
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