基于UVM的FPGA测试技术的研究

• 作者: 宋文强 曾清乐 李敬磊
• 来源期刊: 电脑与电信
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程逻辑器件 通用验证方法学 待测设计
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 应用技术与研究
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2078字
• 语种: 中文

摘要

FPGA设计规模和复杂度的急剧增加使得对其测试的难度提高.本文研究UVM(通用验证方法学)架构和特点,采用UVM搭建验证平台,以TS101作为上位机、FPGA作为其接口控制功能为例,验证FPGA逻辑设计的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋文强		3	8	1.0	2.0
2	李敬磊		3	4	1.0	2.0
3	曾清乐		4	4	1.0	2.0