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用谱半径和迹实现模拟电路故障诊断与参数辨识
用谱半径和迹实现模拟电路故障诊断与参数辨识
作者:
周启忠
谢暄
谢永乐
原文服务方:
微电子学与计算机
模拟电路
故障诊断
参数辨识
谱半径
迹
摘要:
为解决模拟电路参数辨识困难和故障诊断成本高的问题,提出一种基于矩阵的迹和谱半径的模拟电路故障诊断和参数辨识方法。该方法以矩阵理论为支撑,把被测电路输出电压的时间序列组成响应矩阵,以响应矩阵的谱半径和迹随被诊断器件参数的变化而变化的对应关系为基础,建立了故障模型。该模型将故障检测、故障定位和参数辨识一体化处理,具有易于工程实施的优点,解决了基于数字信号处理与人工智能的方法难以实现模拟电路故障参数辨识的不足。实验结果表明该方法的故障定位和故障参数辨识精度高,计算时间开销小,测试成本低。
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文献信息
篇名
用谱半径和迹实现模拟电路故障诊断与参数辨识
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
模拟电路
故障诊断
参数辨识
谱半径
迹
年,卷(期)
2016,(11)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
109-113,118
页数
6页
分类号
TP206+.3
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
谢永乐
电子科技大学自动化工程学院
73
549
12.0
20.0
2
周启忠
电子科技大学自动化工程学院
22
35
3.0
5.0
4
谢暄
电子科技大学自动化工程学院
10
20
3.0
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研究主题发展历程
节点文献
模拟电路
故障诊断
参数辨识
谱半径
迹
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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