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一种采用斩波调制技术的高精度带隙基准源
一种采用斩波调制技术的高精度带隙基准源
作者:
刘家楠
黄鲁
原文服务方:
微电子学与计算机
斩波调制
失调电压
带隙基准
摘要:
采用TSMC 40 nm CMOS工艺,设计了一种高精度的CMOS带隙基准源.首先分析带隙基准的误差,以及误差的消除手段,然后使用斩波技术和凹口滤波器(notch filter)消除失调电压,以及减少斩波带来的纹波影响.最后通过蒙塔卡洛仿真表明该基准源在使用斩波技术后3σ精度提高了7.7倍,达到0.54%.该基准源在-20~125℃的温度范围内温度系数为14×10-6/℃.
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文献信息
篇名
一种采用斩波调制技术的高精度带隙基准源
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
斩波调制
失调电压
带隙基准
年,卷(期)
2016,(12)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
161-164
页数
4页
分类号
TN492
字数
语种
中文
DOI
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作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
黄鲁
中国科学技术大学电子科学与技术系
75
277
9.0
13.0
2
刘家楠
中国科学技术大学电子科学与技术系
1
7
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斩波调制
失调电压
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研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
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