原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
在对传统带隙基准源的误差进行分析的基础上,介绍了一种改进的带隙核结构,该结构能有效抑制电流失配对带隙基准电压带来的影响.根据该结构设计了一种高精度BiCMOS带隙基准源.HSPICE仿真结果表明,该带隙基准源产生1.22V基准电压,在-25℃~+125℃温度范围内具有3.1×10-6/℃的温度系数.在25℃时和3.6v标准电源电压条件下,电源抑制比达76dB,静态工作电流为6.9μA,在2.7V~6V的电源电压范围内线性调整率为0.142mW/V.
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内容分析
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文献信息
篇名 一种改进的高精度BiCMOS带隙基准源的设计
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 带隙基准 BiCMOS 商精度 温度系数
年,卷(期) 2007,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 217-220
页数 4页 分类号 TN432
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.12.062
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 沈绪榜 华中科技大学图像识别与人工智能研究所 50 293 9.0 14.0
2 刘三清 华中科技大学电子科学与技术系 31 279 10.0 15.0
3 张兢 华中科技大学图像识别与人工智能研究所 3 22 2.0 3.0
4 林映嫣 华中科技大学电子科学与技术系 2 9 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
带隙基准
BiCMOS
商精度
温度系数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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