电子元器件低频电噪声测试技术及应用研究

• 作者: 王署光
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 低频电噪声测试 偏置技术 低频噪声放大技术 数据采集技术 噪声数据处理
• 年，卷（期）: 2016,（17）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 134-135
• 页数: 2页
• 字数: 2005字
• 语种: 中文

摘要

载流子微观运动会导致电器元器件出现低频电噪声,噪声的大小能够直接反应电子元器件的生产质量及可靠性.电子元器件生产厂家以及各地的研究所都对低频电噪声的测试技术十分关注.下文主要对电子元器件低频点噪声测试技术及其应用进行简单的探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王署光		8	5	1.0	1.0