边界扫描技术在板级可测性设计中的应用探索

• 作者: 李薇
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 边界扫描技术 板级测试 电路板
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 35-35,34
• 页数: 2页
• 字数: 3040字
• 语种: 中文

摘要

随着硬件系统的规模不断庞大，其内部精度也逐渐增加，相关的测试工作难度越来越大，在这一过程中应用边界扫描技术则能够较好的解决这一问题。本文主要探讨了边界扫描技术的原理，从设计、优化等各个方便针对边界扫描技术在板级可测性设计中的应用。最终结果提示该技术能够显著降低测试时间，对于提高系统经济价值具有较好的作用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李薇		5	3	1.0	1.0