X射线光电子能谱在材料研究中的应用

• 作者: 向诗银 杨水金
• 来源期刊: 湖北师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 化学
• 关键词: XPS 表面分析 化学组成 应用
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 页码范围: 88-92,105
• 页数: 6页
• 分类号: O611.4
• 字数: 3752字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-3149.2017.01.018

摘要

X射线光电子能谱(XPS)是一种表面分析方法,利用这种方法可以得到样品的化学状态、元素组成等大量的重要信息,在多种材料的基础研究及实际应用中有非常重要的作用.简要介绍了XPS在材料研究中的应用,该表征技术可应用于分析样品元素组成及化学状态、测量超薄膜样品的厚度、对样品中元素进行深度剖析确定元素浓度、对样品进行成像及微区分析得到元素分布情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨水金	湖北师范大学化学化工学院	515	2974	26.0	36.0
2	向诗银	湖北师范大学化学化工学院	11	29	3.0	5.0