电容器常见漏电失效模式分析及应用建议

• 作者: 崔德胜 彭磊 熊盛阳 陈朝杰 高憬楠
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 瓷介电容器 钽电解电容器 漏电 可靠性 选用 航天
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TM53
• 字数: 5139字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2017.09.009

摘要

分析了近年来发生的电容器漏电失效典型案例,研究了瓷介电容器和钽电解电容器的漏电失效机理,分析表明金属迁移和介质层缺陷是导致电容器产生漏电流的主要原因.以电容器漏电流产生的理论机理为基础,从选择、检验和使用可靠性角度,提出了一系列电容器选型建议、检验准则和使用要求,以确保电容器在航天等高可靠领域的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊盛阳	中国运载火箭技术研究院元器件可靠性中心	9	14	3.0	3.0
2	彭磊	中国运载火箭技术研究院元器件可靠性中心	6	2	1.0	1.0
3	陈朝杰	中国运载火箭技术研究院元器件可靠性中心	4	2	1.0	1.0
4	崔德胜	中国运载火箭技术研究院元器件可靠性中心	4	2	1.0	1.0
5	高憬楠	中国运载火箭技术研究院元器件可靠性中心	1	1	1.0	1.0