微处理器容软错误设计量化评估指标及评估方法

• 作者: 石伟 窦强 邓宇 郭御风 龚锐
• 来源期刊: 国防科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 容软错误 量化评估 评估方法 微处理器 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术·管理科学与工程
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 5060字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11887/j.cn.201703011

摘要

针对高可靠微处理器软容错设计,提出了一种新的可靠性度量标准,增强的平均无失效工作量,以解决现有度量标准没有综合考虑性能、面积、功耗开销带来的可靠性降低的缺点;提出了一种评估方法对增强的平均无失效工作量以及两种控制流检测技术进行定量评估.评估结果表明,软硬件结合的控制流检测技术较好地折中了可靠性、性能、面积和功耗.量化评估指标全面考虑了多种开销对微处理器可靠性的影响,采用相应的评估方法可以更加准确地对微处理器可靠性加固手段进行定量评估,以指导设计探索和设计优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓宇	国防科技大学计算机学院	10	57	3.0	7.0
2	石伟	国防科技大学计算机学院	8	28	3.0	5.0
3	窦强	国防科技大学计算机学院	25	97	5.0	8.0
4	郭御风	国防科技大学计算机学院	16	166	4.0	12.0
5	龚锐	国防科技大学计算机学院	6	46	3.0	6.0