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微波器件射频可靠性筛选试验研究
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文献信息
| 篇名 | 微波器件射频可靠性筛选试验研究 | ||
| 来源期刊 | 计算机产品与流通 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 微波器件 射频可靠性 动态老化 负反馈电路 功率监测 | ||
| 年，卷（期） | jsjcpylt_2017,（8） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 254 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | TN12 |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | |||
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微波器件
射频可靠性
动态老化
负反馈电路
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期刊影响力
计算机产品与流通
主办单位：
天津市电子计算机研究所
出版周期：
周刊
ISSN：
1001-8786
CN：
CN 12-1276/TP
开本：
16开
出版地：
北京市海淀区万泉河路68号紫金大厦18层
邮发代号：
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
9226
总下载数（次）
115
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