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摘要:
本文主要以6英寸的P型硅外延片的具体生产工艺进行了深入探讨.相关人员通过对相关工艺进行优化,对产生的非主动掺杂效应做好了科学的抑制,应用FTIR、SRP等测试手段来对相关电学参数及其相应形貌做出了认真的检测有着显著的效果,并且不同参数都满足器件的需要.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 P型硅外延片工艺技术的研究
来源期刊 中国科技投资 学科
关键词 6英寸 均匀性 P型硅外延 非主动掺杂
年,卷(期) 2017,(15) 所属期刊栏目 机械与工艺
研究方向 页码范围 277
页数 1页 分类号
字数 2066字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张孟强 2 0 0.0 0.0
2 王宏杰 2 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
6英寸
均匀性
P型硅外延
非主动掺杂
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国科技投资
旬刊
1673-5811
11-5441/N
大16开
北京市
82-979
2002
chi
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