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Elimination of ESD Events and Optimizing Waterjet Deflash Process for Reduction of Leakage Current Failures on QFN-mr Leadframe Devices
Elimination of ESD Events and Optimizing Waterjet Deflash Process for Reduction of Leakage Current Failures on QFN-mr Leadframe Devices
作者:
Frederick Ray I.Gomez
Tito T.Mangaoang Jr.
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
高漏电流故障
故障分析
漏电保护
静电
摘要:
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文献信息
篇名
Elimination of ESD Events and Optimizing Waterjet Deflash Process for Reduction of Leakage Current Failures on QFN-mr Leadframe Devices
来源期刊
电气工程:英文版
学科
工学
关键词
高漏电流故障
故障分析
漏电保护
静电
年,卷(期)
2018,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
238-243
页数
6页
分类号
TD611.5
字数
语种
DOI
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引文网络
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2018(0)
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高漏电流故障
故障分析
漏电保护
静电
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研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电气工程:英文版
主办单位:
美国大卫出版公司
出版周期:
双月刊
ISSN:
2328-2223
CN:
开本:
出版地:
武汉市洪山区卓刀泉北路金桥花园C座4楼
邮发代号:
创刊时间:
语种:
出版文献量(篇)
155
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0
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