星用光电器件位移损伤评估方法

• 作者: 俞佳江 李庆 肖文斌 韦锡峰
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 光电器件 位移损伤 辐射效应评估 仿真分析 地面试验
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 425-430
• 页数: 6页
• 分类号: O483|V416.5
• 字数: 4326字
• 语种: 中文
• DOI: 10.12126/see.2018.05.004

摘要

位移损伤是导致星用光电器件性能衰退的重要因素之一.文章以GaAs太阳电池、CCD、光电耦合器和光敏晶体管为对象,研究了其敏感电参数随位移损伤剂量Dd的退化行为,建立了相应的退化方程.在此基础上,结合空间辐射环境仿真分析和地面辐照试验,提出了一种通用的位移损伤效应评估方法.利用该方法对拟用于某太阳同步轨道卫星上的光敏三极管的在轨退化行为进行了评估,评估结果证明了该方法的有效性和可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦锡峰		11	37	3.0	6.0
2	肖文斌		5	3	1.0	1.0
3	李庆		3	0	0.0	0.0
4	俞佳江		4	3	1.0	1.0