基于Verilog-A的两点调制锁相环综合实验设计

• 作者: 周冉冉 王永
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 锁相环 Verilog-A 两点调制 二进制频移键控
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 所属期刊栏目: 设计开发
• 页码范围: 101-103,105
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 字数: 2172字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.09.50

摘要

两点调制是近年来锁相环芯片研究的热点问题,是一种解决调制带宽限制、实现全通传输的有效新方法.为了让学生深入理解锁相环两点调制的工作机理,本实验首先对锁相环进行Verilog-A行为级建模,以帮助学生快速了解锁相环的动态锁定过程.在此基础上,通过进一步利用两点调制的方式实现二进制频移键控,让学生理解增益匹配的重要性和两点调制锁相环的系统设计方法.整个实验设计由浅入深地涵盖了两点调制锁相环的系统设计及电路实现,有效地帮助学生对集成电路芯片设计前沿知识的理解和掌握.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王永	山东大学微电子学院	21	66	6.0	7.0
2	周冉冉	山东大学微电子学院	1	0	0.0	0.0