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摘要:
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可编程半导体抗浪涌保护器件
浪涌
箝位
闩锁效应
可编程
基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体器件寿命影响因素分析及处理方法
半导体器件
寿命
浪涌
静电
软启动
消浪涌电路
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 基于LabVIEW的电力半导体器件浪涌测试系统
来源期刊 内江科技 学科
关键词
年,卷(期) 2018,(10) 所属期刊栏目 技术创新
研究方向 页码范围 32,84
页数 2页 分类号
字数 1618字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 于庆 5 0 0.0 0.0
2 罗贤明 3 1 1.0 1.0
3 郭杰 3 1 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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节点文献
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同被引文献  (0)
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2018(0)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
内江科技
月刊
1006-1436
51-1185/T
大16开
四川省内江市
1980
chi
出版文献量(篇)
24629
总下载数(次)
43
总被引数(次)
35459
论文1v1指导