浅析微电子器件静电损伤的测试

• 作者: 杨嗣帅
• 来源期刊: 现代信息科技
• 学科: 工学
• 关键词: 微电子器件 静电损伤 放电模型
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 电子工程
• 页码范围: 66-67,70
• 页数: 3页
• 分类号: TN406
• 字数: 3513字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2096-4706.2018.08.026

摘要

随着现代科学技术的发展,电子、通讯等高新技术产业也在迅速崛起,电子仪器和电子设备正在朝着小型化、智能化、多功能化方面发展,而微电子器件成为当下电子产品实现小型化、智能化、多功能的必要原件.这种微电子器件具有外部结构简单、集成度高、功率低的特点,这些特点导致了这种微电子器件对静电比较敏感.本文立足于微电子器件特征和静电放电特点,通过实验分析出静电放电对微电子器件的影响,并提出相应的防护措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨嗣帅		1	1	1.0	1.0