基于循环向量协同优化电路的NBTI效应和泄漏功耗

• 作者: 张嘉洋 石奇琛
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 模型电路可靠性 老化效应 负偏压温度不稳定性 输入向量控制 泄露功耗
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 页码范围: 74-77
• 页数: 4页
• 分类号: TP302
• 字数: 2859字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2019.06.015

摘要

当晶体管的特征尺寸减小到45 nm时,电路的可靠性已经成为影响系统设计一个关键性因素.负偏压温度不稳定性(NBTI)和泄露功耗引起的电路可靠性现象的主要原因,导致关键门的老化加重,关键路径延迟增加,最终使得芯片失效,影响系统的正常工作.为了缓解NBTI效应和泄露功耗对电路可靠性的影响,延长电路的使用寿命,文中提出了循环向量方法进行协同优化.在ISCAS85基准电路,利用本方法协同优化实验,NBTI效应平均延迟相对改善了10％,泄漏功耗平均降低了15％,证明了循环向量方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石奇琛	哈尔滨理工大学软件与微电子学院	1	0	0.0	0.0
2	张嘉洋	哈尔滨理工大学软件与微电子学院	1	0	0.0	0.0