应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路设计

• 作者: 曹靓 王雪萍
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: TMR I/O 抗辐照 FPGA
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 20-25
• 页数: 6页
• 分类号: TN492
• 字数: 2318字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2019.1006

摘要

针对工业控制、航空航天等多种复杂的电磁辐射环境中对大规模FPGA器件及高速数据传输的迫切需求,设计了一种可应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路.该I/O电路中输入/输出寄存器均采用三模冗余(TMR)技术进行了抗辐照加固,能够支持14种电平标准,实现宽电压范围调节.该抗辐照FPGA抗单粒子翻转(SEU)大于37 MeV· cm2/mg.仿真及测试结果表明,该I/O电路满足设计要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王雪萍		1	2	1.0	1.0
2	曹靓		1	2	1.0	1.0