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基于氢等离子体处理改善氢化非晶硅/晶体硅界面钝化效果的工艺研究
基于氢等离子体处理改善氢化非晶硅/晶体硅界面钝化效果的工艺研究
作者:
周玉琴
王楠
钟奇
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
氢等离子体处理
氢化非晶硅/晶体硅界面钝化
后退火处理
钝化机理
摘要:
薄层a-Si∶H钝化技术对于提高硅异质结太阳能电池的效率至关重要,通常有三类工艺可显著改善a-Si∶H薄膜的钝化效果:晶硅表面湿化学处理(薄膜沉积前);氢等离子体处理(薄膜沉积过程中);后退火处理(薄膜沉积后).该论文基于等离子增强型化学气相沉积系统,采用氢等离子处理和后退火处理改善a-Si∶ H/c-Si界面的钝化效果,样品的有效少数载流子寿命最高达到1 ms,并研究了射频功率密度、腔体压力、氢气流量等工艺参数对钝化效果的影响;采用光发射谱、台阶仪等对氢等离子体处理所涉及的物理过程进行研究,得出该工艺对a-Si∶H薄膜具有刻蚀作用;根据钝化效果和刻蚀速率的关系,得出低刻蚀速率由于给予薄膜充足的时间进行结构弛豫或重构,显著改善钝化效果;基于快速热退火方法进一步改善钝化效果,采用傅里叶变换红外光谱对a-Si∶H薄膜的钝化机理进行研究,并基于化学退火模型进行讨论;采用透射电镜研究了a-Si∶ H/c-Si界面的微结构,并没有观测到影响钝化效果的外延生长.
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微结构
等离子体退火
钝化
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文献信息
篇名
基于氢等离子体处理改善氢化非晶硅/晶体硅界面钝化效果的工艺研究
来源期刊
人工晶体学报
学科
工学
关键词
氢等离子体处理
氢化非晶硅/晶体硅界面钝化
后退火处理
钝化机理
年,卷(期)
2019,(10)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
1912-1919
页数
8页
分类号
TM914.4+1
字数
3868字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-985X.2019.10.023
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
周玉琴
中国科学院大学材料科学与光电技术学院
11
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王楠
中国电子科技集团公司第四十六研究所半导体硅外延材料部
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钟奇
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节点文献
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氢化非晶硅/晶体硅界面钝化
后退火处理
钝化机理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
主办单位:
中材人工晶体研究院有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-985X
CN:
11-2637/O7
开本:
16开
出版地:
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
邮发代号:
创刊时间:
1972
语种:
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
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