基于随机相关的电子部件二元加速退化可靠性评估

• 作者: 宦婧 滕克难 王文双 王浩伟 盖炳良 陈健
• 来源期刊: 北京航空航天大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性评估 加速退化数据 二元退化 随机相关 电子部件
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 页码范围: 2237-2246
• 页数: 10页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 7310字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2019.0130

摘要

针对加速应力下电子部件二元相关退化可靠性分析难题,提出一种基于随机相关的可靠性分析方法.采用考虑个体差异的Wiener过程模型建立边缘退化过程模型,并基于加速因子不变原则建立了模型参数与加速应力的关系;构建了基于Copula函数的随机相关模型,采用两阶段贝叶斯参数估计方法进行参数估计,综合运用散点图、偏差信息准则(DIC)值以及Kendallτ的非参数估计值等方法进行随机相关模型选择,并采用蒙特卡罗仿真方法进行可靠度计算.最后采用实例验证了所提方法有效性,为考虑个体差异的贮存可靠性评估提供了技术支撑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	滕克难		132	558	11.0	16.0
2	王文双		24	69	4.0	7.0
3	陈健		13	27	4.0	4.0
4	王浩伟		26	225	10.0	14.0
5	宦婧	江苏科技大学计算机学院	1	0	0.0	0.0