PET薄膜中32S离子径迹的热退火效应

• 作者: 傅元勇 吴振东 梁海英 焦学胜 陈东风 鞠薇
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 重离子 径迹退火 核孔膜 热处理 化学蚀刻
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 2302-2308
• 页数: 7页
• 分类号: TL99
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2018.youxian.0827

摘要

采用径迹蚀刻的方法研究了热处理对聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜中重离子径迹的热退火效应.使用113.7 MeV的32S离子在PET薄膜中产生垂直于表面且贯穿薄膜的离子径迹.对薄膜进行局部热处理,加热温度为70～240℃,时间为1～300 s.薄膜经过化学蚀刻成核孔膜后使用显微镜观测.结果表明:在相同的热处理时间下,随着热处理温度的升高,PET薄膜中离子径迹的热退火效应愈加明显;在热处理温度不变的情况下,随着热处理时间的增加,退火效应亦愈加明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈东风	中国原子能科学研究院核物理研究所	83	193	7.0	11.0
2	吴振东	中国原子能科学研究院核物理研究所	22	28	3.0	4.0
3	梁海英	中国原子能科学研究院核物理研究所	7	7	1.0	2.0
4	傅元勇	中国原子能科学研究院核物理研究所	11	5	1.0	1.0
5	鞠薇	中国原子能科学研究院核物理研究所	7	3	1.0	1.0
6	焦学胜	中国原子能科学研究院核物理研究所	10	8	2.0	2.0