阵列失效单元非凸压缩感知平面近场快速诊断方法

• 作者: MARCO Donald Migliore 李玮 杨强 邓维波
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 阵列诊断 非凸压缩感知 稀疏重构 近场测量 lp(0＜p＜1)范数极小化
• 年，卷（期）: 2019,（6）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 1173-1179
• 页数: 7页
• 分类号: TN958
• 字数: 6728字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2019.06.01

摘要

在阵列失效单元压缩感知近场诊断方法中,缺乏观测矩阵是否满足约束等距特性的先验信息,因此采用l1范数极小化凸优化算法将无法确保阵列失效单元的高概率精确诊断.针对该缺陷,提出了采用迭代重加权最小二乘的非凸压缩感知平面近场快速诊断方法.在失效单元个数远远小于单元总数的前提下,按照随机欠采样方式分别获取完好阵列和失效阵列的近场幅相信息,继而构造差异性阵列并利用所提的非凸优化算法对该阵列的激励进行重构,从而实现阵列失效单元的高概率精确诊断.数值仿真实验表明,所提方法不仅避免了观测矩阵约束等距特性的缺失对诊断性能造成的不利影响,而且克服了非凸范数易于陷入局部最优解这一弊端,明显缩短了诊断时间,有效提高了诊断成功概率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨强	哈尔滨工业大学电子与信息工程学院	30	295	10.0	16.0
3	邓维波	哈尔滨工业大学电子与信息工程学院	65	679	15.0	22.0
5	李玮	哈尔滨工业大学电子与信息工程学院	17	18	3.0	3.0
13	MARCO Donald Migliore	意大利卡西诺大学计算机科学与信息工程学院	2	1	1.0	1.0