一种高性能低功耗的双节点翻转加固锁存器

• 作者: 姚慧杰 李先东 王敏 黄正峰
• 来源期刊: 合肥工业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 单节点翻转(SNU) 双节点翻转(DNU) 高阻态 异构输入反相器
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 电子科学与工程
• 页码范围: 1649-1654
• 页数: 6页
• 分类号: TN432
• 字数: 4579字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5060.2019.12.012

摘要

随着半导体工艺尺寸的发展,时钟频率越来越高,临界电荷变得越来越小,电路节点之间的电荷共享效应变得愈加严重,因此导致多节点翻转(multiple node upsets,MNU)的几率变大.为了解决MNU的问题,文章提出了一种高性能低功耗的双节点翻转加固锁存器(HLDRL),当受到单粒子效应影响时,具有单节点翻转(single node upset,SNU)和双节点翻转(double node upsets,DNU)的自恢复能力.该锁存器由18个异构输入反相器组成,仿真实验结果显示该锁存器具有优良的容错性能,可以实现DNU的完全自恢复,而巨对高阻态不敏感.与其他容忍DNU的锁存器相比,该锁存器具有较小的开销,延迟和功耗延迟积分别减小了46.83％和45.85％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
2	王敏	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	36	1373	11.0	36.0
3	姚慧杰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	2	3	1.0	1.0
4	李先东	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	1	0	0.0	0.0