封装形式对电子元器件长期储存可靠性研究

• 作者: 李铮
• 来源期刊: 中国战略新兴产业(理论版)
• 学科: 经济
• 关键词: 封装形式 电子元器件 长期储存 可靠性比对 比较研究
• 年，卷（期）: 2019,（16）
• 页码范围: 0137-0137
• 页数: 1页
• 分类号: F

摘要

对于电子元器件尤其是军用电子元器件来说,由于其造价昂贵并不能长期生产,因此长期妥善储存是解决电子元 器件停产断档问题的主要方法,而在实际电子元器件储存过程中,封装形式的不同往往会显著影响电力元器件的储存效果。 对此,文章以封装形式对电子元器件长期储存可靠性的影响为研究内容,从多个角度分析并比对了每种封装形式下电子元器 件的储存效果,旨在给予广大电子元器件管理人员可行的帮助和建议,进而促进电子元器件长期储存的有效实现。

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1	李铮		2	0	0.0	0.0