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基板烧结中的空洞问题及措施
基板烧结中的空洞问题及措施
作者:
魏玉娟
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
基板烧结
真空
焊料
空洞率
摘要:
微波组件中的基板烧结有多种方式,但普遍存在烧结空洞率难以控制的问题,从而使产品质量和性能无法达到预定要求.采用真空烧结方法以解决基板烧结中空洞率高的问题,通过对基板烧结中造成空洞的原因进行试验分析,针对不同因素采取不同的措施.同时对基板烧结工艺进行了较为系统的研究,详细阐述了基板真空烧结的工艺过程,总结了工艺流程,并对工艺细节作出了详细说明.
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文献信息
篇名
基板烧结中的空洞问题及措施
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
基板烧结
真空
焊料
空洞率
年,卷(期)
2020,(4)
所属期刊栏目
封装、组装与测试
研究方向
页码范围
19-22
页数
4页
分类号
TN305
字数
1355字
语种
中文
DOI
10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0405
五维指标
作者信息
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姓名
单位
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魏玉娟
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研究主题发展历程
节点文献
基板烧结
真空
焊料
空洞率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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