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摘要:
针对半导体封装设备精确识别晶圆对位标记的需求,研究了两类基于机器视觉的模板匹配算法,包括基于区域相关和基于特征的匹配算法.实验对这两类模板匹配算法进行了比较和分析,并得出了各类算法的使用条件和优缺点.
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文献信息
篇名 用于晶圆对位标记识别的模板匹配算法研究
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 半导体封装设备 对位标记 机器视觉 模板匹配
年,卷(期) 2020,(1) 所属期刊栏目 半导体制造工艺与设备
研究方向 页码范围 23-27
页数 5页 分类号 TP391.41
字数 3449字 语种 中文
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨帆 中国电子科技集团公司第四十五研究所 38 47 4.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
半导体封装设备
对位标记
机器视觉
模板匹配
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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