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摘要:
V93000测试系统是一个集成电路测试设备,用来进行IC测试.对于复杂的集成电路,其测试向量数据庞大,由于V93000测试系统自身向量空间的限制,因此压缩测试向量具有十分重要的意义.该文主要从测试向量生成角度出发,提出一种自编向量重复脚本压缩与V93000的4X配置和Multiport方式相结合的办法来进行测试向量的压缩.该文以反熔丝FPGA测试为例子,通过此方法将测试向量压缩了20倍.
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可配置
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于V93000测试系统的反熔丝FPGA向量压缩方法研究
来源期刊 电子质量 学科 工学
关键词 V93000测试系统 向量压缩 FPGA
年,卷(期) 2020,(8) 所属期刊栏目 专业测试
研究方向 页码范围 24-26,30
页数 4页 分类号 TN307
字数 1000字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈龙 11 10 2.0 3.0
2 解维坤 10 22 2.0 4.0
3 南紫媛 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
V93000测试系统
向量压缩
FPGA
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
广州市五羊新城广兴花园32号一层
46-39
1980
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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